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Interferometre Imageur X-UV

311.jpg Montage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.MiniaturesInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.MiniaturesInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.MiniaturesInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.MiniaturesInterferometre Imageur X-UV

Photos du même montage sous des angles différents.
Interferometrie X-UV

Auteur
Serge Equilbey
Créée le
Mardi 9 Mai 2006
Dimensions
640*434
Fichier
311.jpg
Poids
85 Ko
Visites
7616
Score
pas de note

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