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Interferometre Imageur X-UV

311.jpg Montage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UV

Photos du même montage sous des angles différents.
Interferometrie X-UV

Author
Serge Equilbey
Created on
Tuesday 9 May 2006
Dimensions
640*434
File
311.jpg
Filesize
85 KB
Visits
6034
Rating score
no rate

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