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Montage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.
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Tailles de photo
✔ XXS - minuscule (240 x 160) ✔ XS - très petit (432 x 288)
✔ S - petit (576 x 384)
✔ Original (640 x 427)
![Montage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde. - 432.jpg 432.jpg](./upload/2012/07/27/20120727092430-d475a143.jpg)
- Auteur
- Serge Equilbey
- Créée le
- Lundi 1 Juin 1992
- Ajoutée le
- Vendredi 27 Juillet 2012
- Dimensions
- 640*427
- Fichier
- 432.jpg
- Poids
- 159 Ko
- Tags
- 1992, LCFIO, Manolia, Montage optique, Orsay
- Albums
- Visites
- 5828
- Score
- pas de note
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