La photothèque de l'Institut d'Optique Graduate School

Bienvenue sur la galerie photo de l'Institut d'Optique Graduate School

Home / Tag Montage optique /

Montage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.

432.jpg Montage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UVMontage de caractérisation de cristaux photorefractifs semiconducteurs en régime impulsionnel picoseconde.ThumbnailsInterferometre Imageur X-UV
Author
Serge Equilbey
Created on
Monday 1 June 1992
Dimensions
640*427
File
432.jpg
Filesize
159 KB
Visits
3685
Rating score
no rate

0 comments